光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡有很大的不同，光源、透鏡、成像原理、分辨率、景深和樣品制備方法。

光學(xué)顯微鏡，通常被稱為光學(xué)顯微鏡，是一種以可見(jiàn)光為光源的顯微鏡。光學(xué)顯微鏡是一種利用光學(xué)原理放大人眼無(wú)法區(qū)分的小物體的光學(xué)儀器，為人們提取微結(jié)構(gòu)信息。廣泛應(yīng)用于細(xì)胞生物學(xué)中。

光學(xué)顯微鏡一般由載物臺(tái)、聚光照明系統(tǒng)、物鏡，目鏡和調(diào)焦機(jī)構(gòu)組成。載物臺(tái)用于承放被觀察的物體。利用調(diào)焦旋鈕可以驅(qū)動(dòng)調(diào)焦機(jī)構(gòu)，使載物臺(tái)粗調(diào)或者微調(diào)運(yùn)動(dòng)，便于被觀察物體成像清晰。光學(xué)顯微鏡所成的像為倒像（上下倒立、左右互換）

電子顯微鏡是高端技術(shù)產(chǎn)品的誕生物。它與我們通常使用的光學(xué)顯微鏡相似，但與光學(xué)顯微鏡大不相同。首先，光學(xué)顯微鏡使用光源。電子顯微鏡使用電子束，兩者之間的結(jié)果是不同的。例如，當(dāng)觀察細(xì)胞時(shí)，光學(xué)顯微鏡只能看到細(xì)胞和一些細(xì)胞器，如線粒體和葉綠體，但只能看到細(xì)胞的存在和細(xì)胞器的具體結(jié)構(gòu)。電子顯微鏡可以更詳細(xì)地看到細(xì)胞器的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至蛋白質(zhì)等大分子。

電子顯微鏡包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、反射電子顯微鏡和發(fā)射電子顯微鏡。其中，掃描電子顯微鏡被廣泛使用。掃描電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于材料分析和研究，主要用于材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種涂層表面形狀分析、層厚測(cè)量、顯微組織形狀和納米材料分析X 射線衍射儀或電子能譜儀結(jié)合形成物質(zhì)成分分析的電子微探針。

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）簡(jiǎn)寫(xiě)為 SEC,它是一種新型的電子光學(xué)儀器。它由真空系統(tǒng)、電子束系統(tǒng)和成像系統(tǒng)系統(tǒng)和成像系統(tǒng)。它利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)的各種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制成像。

子激發(fā)了樣品表面的二次電子。顯微鏡觀察每個(gè)點(diǎn)散射的電子，樣品旁邊的閃爍晶體接收二次電子，通過(guò)放大顯像管的電子束強(qiáng)度來(lái)改變顯像管屏幕上的亮度。顯像管的偏轉(zhuǎn)線圈與樣品表面的電子束同步掃描，使顯像管的熒光屏顯示樣品表面的形狀圖像。

具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)、范圍寬、圖像分辨率高、景深大等特點(diǎn)。透射電子顯微鏡應(yīng)用性能：1。晶體缺陷分析。所有損壞正常點(diǎn)陣周期

結(jié)構(gòu)統(tǒng)稱為晶體缺陷，如空位、位錯(cuò)、晶界、沉淀物等。這些破壞點(diǎn)陣周期性結(jié)構(gòu)會(huì)導(dǎo)致其區(qū)域的衍射條件發(fā)生變化，使缺陷區(qū)域的衍射條件不同于正常區(qū)域的衍射條件，從而在熒光屏上顯示出相應(yīng)的亮度和暗度差異。2.組織分析。除了各種缺陷外，還可以產(chǎn)生不同的衍射圖案，可以在觀察組織形態(tài)的同時(shí)分析晶體的結(jié)構(gòu)和取向。3.原位觀察。使用相應(yīng)的樣品平臺(tái)，可以在透射電鏡中進(jìn)行原位實(shí)驗(yàn)。例如，使用應(yīng)變拉伸樣品觀察其變形和斷裂過(guò)程。4.高分辨率顯微技術(shù)。提高分辨率，使物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)能夠更深入地觀察，一直是人們不斷追求的目標(biāo)。高分辨率電子顯微鏡利用電子束相位的變化，由兩束以上的電子束相連成像。在電子顯微鏡分辨率足夠高的情況下，使用的電子束越多，圖像的分辨率越高，甚至可以用于薄樣品原子結(jié)構(gòu)成像。